半导体材料

GDMS仪器具有对不同形态的材料分析能力。可以分析任何形态的样品 (块材,薄片,颗粒,粉末等),这对于高性能材料加工 的行业,在同样的分析基础上,为材料在加工前后提供更客观的分析数据,优化生产工艺。

 

   

 

GDMS常规检测限 Si片/Si块

 

GDMS常规检测限 Si颗粒/Si粉(使用辅助电极)

 

 

 

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